| |
|
|
| 您當前位置：網站首頁--新聞資訊 |
回旋質譜計的特點與發展
|
回旋質譜計的突出優點是:零件少;電極薄;體積小;其電極可用高頻加熱除氣，因而放氣少;幾乎沒有“記憶效應”。特別適宜對超高真空小體積作殘氣分析。
回旋質譜計的缺點是:需用磁場;操作不便;不能用電子倍增器檢測，使最小可檢分壓力受到限制;質標非線性;譜線自動記錄復雜。
回旋質譜計的基本原理是由希普爾(Ripple)等在1949年提出的。托馬斯(Thomas)等在1951年首次制成質譜計。1954年阿爾伯特(Alpert)等制成簡單型回旋質譜計，并用來分析超高真空下的殘余氣體，大大地推進了超高真空技術的發展。國外許多工作者也報道了簡單型回旋質譜計的性能研究結果。1960年克洛普弗(Klopfer)研制了一種可以去除非共振離子空間電荷影響的復雜型回旋質譜計。質譜計的靈敏度可保持在10%范圍內不變，使定量分析成
為可能。這種質譜計的缺點是結構比較復雜、參數調整困難、內部電極不易徹底除氣。許多使用者對簡單型回旋質譜計的定量分析精度極為關心。我國蘭州物理研究所對簡單型回旋質譜計的定童特性作了深人研究。研究結果表明，只要參數選擇適當，簡單型回旋質譜計的靈敏度的重復性可保持在20%以內(包括長期工作后靈敏度的穩定性和各管間靈敏度的重復性)，是能滿足一定要求的定量分析工作的。為了改善回旋質譜計的分辨本領，從而發明了掩埋離子收集極式回旋質譜計。這種質譜計的分辨本領幾乎要比具有相同磁場強度的傳統回旋質譜計高一個數量級。其原理是，利用非共振離子在收集極附近的軌道半徑的增量小于共振離子的半徑增量的特性，在掩埋收集極前留一定寬度的空隙，不讓非共振離子打上收集極，從而提高了儀器的分辨本領。
我國研制回旋質譜計的情況是:1960年首次由成都電訊工程學院研制成功，1963年中國科學院電子研究所對簡單型回旋質譜計的工作特性進行了詳細的研究，1965年中國科學院蘭州物理研究所研制出定童精度為20%的簡單型回旋質譜計的成套設備。此外，南開大學、復旦大學、北京電子管廠、虹光電子管廠和華東電子管廠等單位對回旋質譜計的理論、結構和應用都做了很多工作。 |
| 上一篇：真空系統的氣體分析與分壓側量及應用范圍 |
| 下一篇：影響真空包裝保鮮質量好壞的因素 |
| 轉載請注明出處：http://www.tydpcl.com,飛魯泵業版權所有 |
|
